Juni 2011

Samuel Freed (NI): Mehr als nur messen - Anforderungen an moderne rechnergestütze Messtechnik in
Elektronik 11/2011, S. 34-35

Dr. Matthias Laasch (Editor): PXI-Digitizer für das automatisierte Prüfen in
EL Info 6/2011, S. 14

Marisa Robles Consée (Editor): National Instruments und Tektronix kooperien bei PXI-Digitizern in PLUS 6/2011, S. 1229

Rebecca Suemnicht (NI): Oszilloskop-ASCIS auf PXIe-Boards inelektronik industrie 6/2011, S. 24-25

Marcel Consée (Editor): Erstgeburt in Design & Elektronik Kompakt Sonderpublikation Mai, S. 4

Ingo Schumacher (NI): Überwachung macht Maschinen sicher und effizient in Automate.Now! 2011, S. 48-49

Dr. Matthias Laasch (Editor): Mehr als ein Flirt? in EL Info 6/2011, S. 44-45

Klaus Dinnes (NI), Iris Krapp (Heitec), Andreas Kempf (DENSO): Die ideale Plattform in Industrial Vision 2/2011, S. 8-9

Nicole Kothe-Wörner (Editor): National Instruments kauft AWR und Phase Matrix in Markt & Technik 24/2011, S. 8