Aktuelles/Presse
Aktuelle Pressemitteilungen
National Instruments bietet neue Optionen zur Erweiterung seiner rekonfigurierbaren I/O-Plattform um benutzerdefinierte Elektronik
Januar 2012
NI CompactRIO Module Development Kit und RIO Mezzanine Card erweitern Möglichkeiten für maßgeschneiderte I/O.
National Instruments stellt NI-LabVIEW-Toolkit für die Prognose und Überwachung von Maschinenzuständen vor
Januar 2012
Zusammenarbeit mit dem NSF Center for Intelligent Maintenance Systems führt zu höherer LabVIEW-Funktionalität.
Call for Papers für den 17. Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis“ – VIP 2012
Dezember 2011
Ab sofort läuft der Call for Papers für den 17. Technologie- und Anwenderkongress VIP 2012, der am 24. und 25. Oktober 2012 wieder im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München stattfinden wird.
Erste Low-Speed-CAN- und LIN-Schnittstellen für NI CompactDAQ
November 2011
Neue NI-XNET-Module maximieren Wiederverwendbarkeit von Projekten mit zusätzlicher Plattformunterstützung.
NI erweitert innovative PXI-Plattform um sechs neue Produkte
November 2011
National Instruments stellte auf der productronica sechs neue PXI-Produkte vor.
XXV. Messtechnisches Symposium: National Instruments sponsert Messtechnik-Preis 2011
November 2011
Der Preis wurde in diesem Jahr von der Firma National Instruments gestiftet und ist mit 2000 EUR dotiert.
NI stellt neue Bildverarbeitungs- und Motorsteuerungshardware mit NI-RIO-Technologie vor
Oktober 2011
Motorantrieb und Framegrabber mit NI-LabVIEW FPGA-Technologie unterstützen Anwender bei der Erstellung von benutzerdefinierten Überwachungs- und Maschinensteuerungslösungen
NI erweitert Schaltsystem mit hoher Kanaldichte für PXI
Oktober 2011
Neue Relaiskarten für NI SwitchBlock bieten zusätzliche Lösungen für Schaltsysteme mit hoher Kanalanzahl.
National Instruments unter den 25 besten Arbeitgebern weltweit
Oktober 2011
NI belegt Platz 18 der erstmals veröffentlichten Liste mit den besten multinationalen Arbeitgebern.
NI-Module erweitern Funktionen der PXI-Plattform und reduzieren Kosten für Halbleitercharakterisierung und -tests
Oktober 2011
Digitale per Pin Parametric Measurement Units und Source Measure Units mit hoher Kanalanzahl für Halbleiter. Weiterlesen »
NI führt PXI-Testlösung für RF-Leistungsverstärker vor
Oktober 2011
Testlösung beschleunigt Testdurchsatz um das Zehnfache Weiterlesen »
NI erweitert Smart-Camera-Produktfamilie um sieben neue Modelle
Oktober 2011
Neue Kameras bieten Farb- und hochauflösende Optionen, Schutzart IP67 für robuste Anwendungen und mehr Leistung durch Intel® Atom™ Prozessor. Weiterlesen »
NI bringt NI VeriStand 2011 für Echtzeit- und HIL-Tests auf den Markt
September 2011
Erweiterung der Echtzeittestsoftware um neuen Stimulus Profile Editor und Zusatzpaket INERTIA für Testanwendungen. Weiterlesen »
NI: Grenzen setzt nur Ihre Phantasie
NI ist einer der weltweit führenden Anbieter von Mess-, Prüf- und Embedded-Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler.
NI Germany gelang 2011 bereits zum sechsten Mal eine Auszeichnung beim Wettbewerb „Deutschlands Beste Arbeitgeber“.
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