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ATE-Technologietag 2013 – Agenda

 

Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich automatisierte Testsysteme

 

Agenda    
9:00 – 9:15 Begrüßung
Michael Konrad, Konrad GmbH & Philippe Götz, National Instruments Germany GmbH
9:15 – 10:00 Keynote: Automated Test Outlook 2013
A research into the latest test and measurement trends and technologies
Francis Griffiths,
National Instruments Vice President Europe
Baugruppentest  RF- und Halbleitertest
10:00 – 10:30 PXI – Mehr als nur ein Formfaktor
Rahman Jamal,
Technical and Marketing Director Europe,
National Instruments Germany GmbH
History and Future of Semiconductor ATE
Bernd Fasching, National Instruments Germany GmbH
10:30 – 11:00 ABex – Extending PXI Capabilities with Analog Bus,
Simplified Signal Routing and Connectivity
Matthias Vogel, Konrad GmbH
Erfahrungen beim Halbleitertest und zukünftige
Herausforderung für PXI-Testsysteme
Klaus Förster, IMMS Institut für Mikroelektronik- und
Mechatronik-Systeme
11:00 – 11:30   Kaffeepause & Ausstellung
11:30 – 12:00 Testerschnittstellen erfolgreich standardisiert
Günter Seipold, MIC Mass Interface Connections GmbH
Developing High-Performance Automated Test
Applications Using NI FlexRIO and LabVIEW FPGA
Christoph Landmann, National Instruments Germany GmbH
12:00 – 12:30 Konrad LEON – Embedded ICT PCB Testplattform der dritten
Generation – USB-Ethernet-PXI
Michael Konrad, Konrad GmbH
FINN – Die skalierbare Halbleitertestplattform und deren
Architektur, Instrumentierung, LoadBoard-Interface und
Applikationen
Andreas Millinger, Markus Siebenhaar, Konrad GmbH
12:30 – 13:00 MES – Kostenoptimierte Einführung und Realisierung
von Mehrwerten in der Elektronikfertigung
Andreas Rudl, ITAC Software AG
13:00 – 14:00   Mittagspause & Ausstellung
14:00 – 14:30 Realisierung einer automatischen Prüfinsel in In-Line
Konfiguration mit ABex-basiertem Testsystem
Thomas Ketterer, Pematech AG
Automated Testing of CONCEPT’s SCALE-2® ASIC
Chipset using Konrad’s Mixed-Signal Test System
KT-7500 FINN
Sam Gasser, CT-Concept Technologie AG
14:30 – 15:00 Kontaktierung kleinster Testpunkte (150u) mittels Konrad
Vision-Guided Micro Contacting Station
Michael Konrad, Konrad GmbH
Modular Test Platform for Multisite Mixed Signal
Device Testing
Bernd Fasching, National Instruments Germany GmbH
15:00 – 15:30   Kaffeepause & Ausstellung
15:30 – 16:00 In System Programming solution for integration in
industrial environment
Paolo Chitussi, SMH Technologies
Introduction to Software-Designed Instrumentation
and the World’s First RF and Baseband Vector Signal
Transceiver (VST) for PXI
Christoph Landmann, National Instruments Germany GmbH
16:00 – 16:30 Boundary Scan & CoreCommander bieten neue
Möglichkeiten für ICT und FKT
Marco Sliwa, JTAG Technologies
KT-PAUL – Die universelle Testplattform für MIL /
Aerospace Applikationen
Peter Abendroth, Laurent Chatard, Konrad GmbH
16:30 – 17:30   Happy Hour & Ausstellung

 

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