Technologietag Baugruppentest

 
Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich automatisierte Testsysteme
 

National Instruments und der Select Alliance Partner GÖPEL electronic veranstalten am 21. März 2012 in Jena einen Technologietag zum Thema automatisierte Testsysteme.Im Rahmen der Veranstaltung bieten wir Entscheidungsträgern und Testingenieuren die Möglichkeit, sich umfassend über Trends, Standards und COTS-Technologien zu informieren.  Anbieter innovativer Prüftechnik sowie deren Anwender präsentieren verschiedene Prüfverfahren, den Stand der Technik, Fall- und Anwendungsbeispiele sowie Ausblicke auf Trends und Entwicklungen.
 
Erfahren Sie mehr zu den einzelnen Themenbereichen:
 

• Allgemeine Strategien zum Test elektronischer Baugruppen
• Optische Inspektionstechnologien (AOI/AXI)
• JTAG/Boundary Scan
• Chip-Embedded Instrumentation
• Funktionstest (FKT)
• Kombination verschiedener Testverfahren

 
Die Kombination aus Fachvorträgen, Gesprächen und begleitender Ausstellung bietet allen Teilnehmern des Technologietags Baugruppentest umfassende Informationen sowie eine einmalige Gelegenheit zum Erfahrungsaustausch und Networking.
 

Teilnahmegebühr: 98,- Euro  

 
Folgende Rücktritts- und Stornierungsbedingungen gelten für den Technologietag "Baugruppentest"  am 21.03.12 in Jena:
 

• Bei Stornierung bis zum 28.02.12: 50 % der Teilnahmegebühr
• Bei Stornierung ab dem 29.02.12: 100 % der Teilnahmegebühr Gerne akzeptieren wir einen Ersatzteilnehmer. Bitte teilen Sie uns dies in schriftlicher Form mit.

 
 Agenda
 Anmeldung
 
 
Vorabinformation

• Entwicklung automatisierter Prüfsysteme
• Webcast: Automatisiertes Messen – Die Vorteile modularer Messgeräte