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Podiumsdiskussion

VIP 2016

Mittwoch, 14:30 – 15:30 Uhr, Tenne

 

Smartere Testsysteme für Smart Devices


Moderator:  Ronald Heinze – VDE Verlag
Es diskutieren u.a.:
Niels Koch Audi AG
Michael Konrad Konrad Technologies
Dr.-Ing. Christian Henke Fraunhofer-Einrichtung für Entwurfstechnik Mechatronik IEM
Wolfram Koerver S.E.A. - Science & Engineering Applications Datentechnik GmbH
Benjamin Döbbeler Werkzeugmaschinenlabor WZL der RWTH Aachen
Rahman Jamal National Instruments