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Semiconductor Test

VIP 2016

Wenn jedes Gerät im kommerziellen und industriellen Bereich mit mehr RFICs und MEMSs ausgestattet wird, steigen die Möglichkeiten auf Verbesserungen in unserem Alltag sowie unserer Arbeitswelt ins Unendliche. Das Hinzufügen weiterer Sensor- und RF-Tests zu bestehenden Prüfsystemen ist meist kostspielig und sehr zeitaufwendig. Das Produktkonzept kann dadurch buchstäblich wirtschaftlich nicht mehr rentabel sein. Automatisierte Testsysteme im Halbleitersektor sollen daher kosteneffizient und flexibel sein. Bei neuen Testanforderungen müssen getätigte Investitionen und eine optimale Testabdeckung gewahrt werden – am besten mit einer Messplattform, die vom Labor über die Charakterisierung bis in die Halbleiterproduktion eingesetzt wird.

Mit dem stetigen Investment in neue Produkte für die PXI-Messplattform ermöglichen wir den Anwendern eine kontinuierliche Verbesserung des Workflows, z. B. für digitale Subsysteme.

Diese Vortragsreihe zeigt in Anwender- und Technologievorträgen, welche Möglichkeiten existieren und welche Projekte bereits erfolgreich umgesetzt wurden.


Mittwoch, 11:30 – 18:00 Uhr

11:30 – 12:15

Aktuelle Trends und neue Produkte für den Halbleitertest

Christian Spiß, Vanessa Blumenstein, National Instruments
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12:15 – 13:00 A Modular Approach for Automated Validation and Verification of Semiconductor Products

Wolfgang Rominger, NXP Semiconductors Austria GmbH
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13:00 – 14:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung
14:30 – 15:15 Improving the Design to Test Flow to Close the Gap Between Design, Characterization Test and Production Test

George Zafiropoulos, National Instruments

Karsten Einwich, COSEDA Technologies GmbH
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15:15 – 16:00 Von der Charakterisierung zur Produktion – Mit der STS den Übergang beschleunigen und die Code-Wiederverwendbarkeit erhöhen

Marcus Schramm, Konrad GmbH Bernd Fasching, National Instruments
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16:00 – 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung
16:30 – 17:15 Driving Next Generation Automated Validation for Functional Microcontroller Validation

Markus Kösler, Hans-Georg Haeck, Texas Instruments GmbH
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17:15 – 18:00 Power Semiconductor Reliability – Herausforderungen beim Test von Leistungshalbleiter meistern

Frank Heidemann, SET GmbH
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Mittwoch, 11:30 – 12:15
Aktuelle Trends und neue Produkte für den Halbleitertest


Christian Spiß, Vanessa Blumenstein, National Instruments

NI stellt das neue Digital Pattern Instrument vor, welches die für den Postsilicon- und Produktionstest nötigen Eigenschaften und Paradigmen zum digitalen Test von Halbleitern auf den Formfaktor PXI bringt. Testingenieure verzeichnen eine wesentliche Verbesserung der Datenkorrelation und des Arbeitsablaufs in der Charakterisierung sowie der Produktion. Erfahren Sie, wie NI-Hard- und –Software Ihre Tests und Ihre Testdaten optimieren kann und welche Trends die Branche aktuell beschäftigen.

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Mittwoch, 12:15 – 13:00
A Modular Approach for Automated Validation and Verification of Semiconductor Products

Wolfgang Rominger, NXP Semiconductors Austria GmbH

This session illustrates the utilization of a modular, re-useable framework for Engineering Lab measurements. The concept is based on a user-defined instrument abstraction layer with a clear, well defined interface to facilitate infinite instruments. It proofs the concept using state-of-the-art technology with object-oriented NI LabVIEW and NI TestStand to create a highly flexible test framework to reduce test development time by taking the advantage of a highly re-useable LabVIEW instrument driver abstraction and simple automated test execution with NI TestStand.

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Mittwoch, 14:30 – 15:15
Improving the Design to Test Flow to Close the Gap Between Design, Characterization Test and Production Test


George Zafiropoulos, National Instruments

Karsten Einwich, COSEDA Technologies GmbH

While the semiconductor development process is fairly mature, significant gaps still exist in the typical design flow. Inefficiencies exist between the early design engineering phase, first silicon bring-up, lab characterization, and volume production testing. Siloed flows, duplication of effort, little verification IP reuse, and lack of cross-domain analytical tools are causing schedule delays and higher costs. Improving the overall flow will require collaboration across the design and test ecosystem to identify areas of potential improvement. In this session National Instruments will outline areas of potential improvement and goals for collaboration.

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Mittwoch, 15:15 – 16:00
Von der Charakterisierung zur Produktion – Mit der STS den Übergang beschleunigen und die Code-Wiederverwendbarkeit erhöhen

Marcus Schramm, Konrad GmbH Bernd Fasching, National Instruments

Während der Entwicklung und Charakterisierung von neuen Produktion werden häufig andere Instrumente und Entwicklungsumgebungen verwendet, als dies dann in der Produktion bzw. im Produktionstest der Fall ist. Dies hat zur Folge, dass viele Entwicklungen mehrfach durchgeführt werden müssen, was zu einer reduzierten Effizienz führt. Mithilfe der STS-Plattform im Allgemeinen und dem Semiconductor-Modul für TestStand im Speziellen kann die Effizienz bei der Überführung von der Charakterisierung zur Produktion gesteigert werden. In diesem Beitrag wird an einem Beispiel die Arbeitserleichterung dargelegt.

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Mittwoch, 16:30 – 17:15
Driving Next Generation Automated Validation for Functional Microcontroller Validation

Markus Kösler, Hans-Georg Haeck, Texas Instruments GmbH

Texas Instruments developed an "Automated Validation System" for pre-silicon and silicon functional validation across the various microcontroller teams.

This presentation will show in more details how TI realized a modular framework consisting of software parts realized with LabVIEW and TestStand, hardware system using PXI instruments and methods and guidelines for re-use of tests across different teams. The audience will see how the system can be quickly extended with new features without modifying existing parts and how to have an easy setup and deployment for new architecures. This system is becoming the standard for MCU validation inside of TI now.

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Mittwoch, 17:15 – 18:00
Power Semiconductor Reliability – Herausforderungen beim Test von Leistungshalbleiter meistern

Frank Heidemann, SET GmbH Technologies

Moderne Leistungshalbleiter und deren sich permanent verbesserte Performance, reduzierte Bauform und größeren Strom- und Spannungs-Level stellen den Reliability-Test und uns als technische Verantwortliche vor immer neue Herausforderungen. In diesem Vortrag werden neuste technologische Ansätze wie z.B. die Einzeltemperierung zur Vermeidung des thermischen „runaways“ diskutiert und Lösungen auf Basis von NI Technologien vorgestellt.

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Donnerstag, 10:30 – 11:15
Use #Bookmarks – Get Your Review Docs for Free!
Daniela Biberstein, Matthias Kubli, Helbling Technik AG

Seit sieben Jahren entwickeln wir mit LabVIEW Applikationen zur Datenerfassung und Auswertung von Versuchen im Bereich der pharmakologischen Forschung. Unser größtes Messsystem erfasst in wenigen Minuten bis zu ein GB an komplexen Daten von 384 parallelen Versuchen. Die Anzeige und Auswertung dieser Daten erfolgt in Sekundenbruchteilen parallel für alle 384 Experimente. Als Beispiel für eine komplexe Anwendung wurde die zugehörige Auswertesoftware DataControl 384 auf der NI VIP 2014 während der Keynote vorgestellt. In diesem Vortrag wird anhand von Codebeispielen aufgezeigt, mit welcher Architektur und mit welchen Tricks man eine solch außergewöhnliche Performance in LabVIEW erreichen kann.

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Donnerstag, 11:15 – 12:00
Pentomino Solver – Lösung eines 3D-Puzzles per Bruteforce
Erik Brenncke, Daimler AG

Pentomino Solver löst ein gegebenes 3D-Puzzle, indem es 25 gleiche Pentominos zu einem Kubus zusammenfügt. Durch Probieren aller möglichen Kombinationen von Pentominos zueinander werden sämtliche Lösungen gefunden. Fortschritt und Lösungen werden in 3D dargestellt. Die Software basiert auf der Producer/Consumer-Architektur. Der Kernalgorithmus verwendet einen Software-Stack, welcher mit einer Queue umgesetzt wird.

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Donnerstag, 13:30 – 14:15
A Complete Toolchain of Continuous Integration for LabVIEW
Ulf-Hendrik Hansen, WERUM Software & Systems

Continuous integration is one of the most essential practices for achieving high standards of software development quality. Testing and quality assurance in the LabVIEW ecosystem depend on various tools. We show a scalable CI-framework for source-code control, automated build processes, requirements management, and automated unit testing for projects of any LabVIEW version and configuration. This Jenkins-controlled service environment seamlessly integrates SVN, Requirements Gateway, VI Package Manager as well as SonarQube and Nexus for test results and artifact management.

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Donnerstag, 14:15 – 15:00
Eine serviceorientierte Funktionstestarchitektur auf Basis des LabVIEW Actor Framework
Michael Thimm, Matthias Kresel, SEN - System Entwicklung Nordhausen GmbH

Für die Inbetriebnahme automatisierter Funktionstests ist die Entwicklungsdauer der Prüfsoftware vor allem in modularen Hardwareumgebungen ein kritischer Zeitfaktor. Das in diesem Beitrag beschriebene Framework stellt aus dem LabVIEW Actor Framework durch Vererbung gewonnene und mit zusätzlicher Funktionalität angereicherte Klassen bereit, die die Entwicklung von Funktionstests vereinfachen. Grundlagen einer so erstellten Funktionstestsoftware sind voneinander unabhängige spezialisierte Actor-Bäume, die über einen Haupt-Actor verbunden sind.

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Donnerstag, 15:30 – 16:15
Implement State Machines Using the Actor Framework: The State Actor
Oliver Wachno, Bürkert Werke GmbH

Das Actor Framework eignet sich hervorragend dazu, skalierbare und flexible Applikationen zu erstellen. Es stellt in der Zwischenzeit eines der komplexeren De-facto-Standard-Entwurfsmuster für die fortgeschrittene LabVIEW-Programmierung dar. Die Statemachine/der Zustandsautomat ist ein weiteres, schon altbewährtes Entwurfsmuster zur Steuerung von Abläufen in Programmen. Der State Actor stellt eine Zusammenführung beider Entwurfsmuster dar. Der Vortrag soll zeigen, wie der State Actor eingesetzt werden kann.

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Donnerstag, 16:15 – 17:00
CS++ - An NI Actor Framework based Class Library
Holger Brand, Dennis Neidherr, GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung

CS++ is a class library based on NI’s Actor Framework, to be used for FAIR experiment control systems. CS++ extends the Actor Framework with base classes and concrete implementations for device control and distributed communication using abstract process variables, with derived classes for Shared Variable and DataSocket communication, and a central message logger. It allows for interactive launching of actor objects preconfigured in a database, and introspection allows for interactive dispatching of Actor Messages.

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